Grupo: Danaher
Extractos del catálogo
Visión y medida 3D con máxima calidad y precisión
Abrir la página 1 del catálogoVisión 3D con máxima calidad y precisión Tanto en los procesos industriales como en la investigación de materiales, resulta esencial que el análisis de superficies sea muy preciso con el objetivo de garantizar un óptimo rendimiento tanto de los materiales como de los componentes. Pero existen varios retos: las superficies pueden estar formadas por estructuras complejas con áreas de fuerte pendiente que exigen una resolución lateral de pocas micras o por picos y valles que requieren un análisis vertical en la escala subnanométrica. Mientras que el modo confocal ofrece una elevada resolución...
Abrir la página 2 del catálogoLEICADCM8 VISIÓN Y MEDIDA 3D CON MÁXIMA CALIDAD Y PRECISIÓN 3 "Gracias al sistema Leica DCM, ahora podemos ofrecer por primera vez servicios de medición topográfica. Esto nos ha permitido conseguir nuevos proyectos y clientes." Stephan Ramseyer, IMA, Haute Ecole Arc Ingénierie, La Chaux-de-Fonds, Suiza LEICADCM8 VISIÓN Y MEDIDA 3D CON MÁXIMA CALIDAD Y PRECISIÓN 3 Obtenga más información sobre las aplicaciones de análisis de superficies en 3D o comparta su experiencia con nuestra comunidad www.leica-microsystems.com/science-lab Se muestra con mesa antivibración opcional
Abrir la página 3 del catálogoVersátil y preciso para satisfacer sus necesidades específicas en metrología de superficies El Leica DCM8 unifica las ventajas de la microscopía confocal HD y la interferometría con un gran número de funciones adicionales que facilitan la caracterización precisa y reproducible de las más variadas superficies. Para satisfacer sus necesidades de documentación, el perfilómetro permite una excelente captura y procesamiento de imágenes en color verdadero, gracias a su cámara Megapixel CCD integrada y a sus 4 fuentes de luz LED. RESOLUCIÓN LATERAL ÓPTIMA CON MICROSCOPÍA CONFOCAL HD Gracias a la...
Abrir la página 4 del catálogoLEICA DCM8 VERSÁTIL Y PRECISO PARA SATISFACER SUS NECESIDADES ESPECÍFICAS EN METROLOGÍA DE SUPERFICIES RESOLUCIÓN VERTICAL ÓPTIMA CON INTERFEROMETRÍA HD Si se requiere una resolución vertical de hasta 0.1 nm, el modo de interferometría del Leica DCM8 es la elección perfecta. El sistema es capaz de analizar superficies lisas, ultralisas y ultrapulidas, lo que permite cubrir una amplia gama de aplicaciones con un único sistema. Para satisfacer distintas necesidades, incluido el análisis de superficies con alta y baja reflectividad, ofrecemos una gama completa de exclusivos objetivos de...
Abrir la página 5 del catálogoCUATRO LED PARA LA CAPTURA Y PROCESAMIENTO DE IMÁGENES HD RGB Y PARA AMPLIAR EL RANGO APLICATIVO El Leica DCM8 incluye cuatro LED, azul (460 nm), verde (530 nm), rojo (630 nm) y blanco (centrado 550 nm). Al aumentar el número de colores y, por tanto, de longitudes de onda disponibles, el rango de aplicación se amplía. Por ejemplo, si se trabaja en semiconductores, con una muestra sensible a la luz azul, puede utilizarse únicamente luz roja para la captura de imágenes e información topográfica. Dispondrá de una imagen a todo color con la máxima nitidez Los LED RGB, combinados con la cámara...
Abrir la página 6 del catálogoLEICA DCM8 VERSÁTIL Y PRECISO PARA SATISFACER SUS NECESIDADES ESPECÍFICAS EN METROLOGÍA DE SUPERFICIES Representación gráfica de los elementos internos TRES MÉTODOS PARA MEDIR ESPESOR DE CAPAS TRANSPARENTES El Leica DCM8 ofrece tres técnicas alternativas para la determinación de espesores de capas transparentes: modo confocal, modo interferométrico y modo de reflectómetro espectral. Las técnicas confocales y de interferometría se pueden utilizar para determinar el grosor de una capa o una lámina transparente, así como la topografía del sustrato de la capa o la interfase entre la capa y el...
Abrir la página 7 del catálogoLA CONFIGURACIÓN Y EL OBJETIVO CORRECTOS PARA SU MUESTRA Dispondrá de una óptica con una calidad excepcional El Leica DCM8 utiliza nuestros objetivos reconocidos a nivel mundial para trabajar en modo confocal, campo claro y campo oscuro, con un aumento de 1.25x a 150x y una amplia gama de distancias de trabajo. Si necesita analizar sus muestras con la máxima resolución lateral, dispondrá de objetivos de inmersión con aperturas numéricas elevadas. Para analizar una superficie por debajo de una capa transparente, nuestros objetivos con collar de corrección permiten el enfoque de la muestra a...
Abrir la página 8 del catálogoLEICA DCM8 VERSÁTIL Y PRECISO PARA SATISFACER SUS NECESIDADES ESPECÍFICAS EN METROLOGÍA DE SUPERFICIES Configuración estándar Revólver portaobjetivos motorizado Una selección de ópticas pulidas a mano son el núcleo de nuestros objetivos Dispone de una gama completa de platinas manuales y motorizadas para adaptarse a sus nece
Abrir la página 9 del catálogoRápido, sencillo y duradero: menos tiempo, dinero y esfuerzo para obtener los mejores resultados Una caracterización de superficies fiable y precisa es imprescindible en cualquier aplicación, pero en la fabricación también es esencial una alta velocidad, para evitar las costosas interrupciones de los procesos de producción. El Leica DCM8 es muy fácil de utilizar y resulta muy rápido en la captura de datos e imágenes de superficie. El software intuitivo también facilita los análisis posteriores y su diseño duradero garantiza una larga vida útil con el mínimo coste de utilización. SIN...
Abrir la página 10 del catálogoLEICA DCM8 RÁPIDO, SENCILLO Y DURADERO: MENOS TIEMPO, DINERO Y ESFUERZO PARA OBTENER LOS MEJORES RESULTADOS CAPTURA RÁPIDA DE GRANDES SUPERFICIES CON MAYOR CAMPO DE VISIÓN Y TOPOGRAFÍA PANORÁMICA Gracias a su cámara CCD de alta resolución integrada, el Leica DCM8 dispone de un campo visual (FOV) muy grande. Esto permite capturar una mayor superficie de la muestra con cada objetivo. Podrá verlo todo En el control de calidad de componentes industriales, con frecuencia no es suficiente con medir tan solo una pequeña sección de la muestra. Por esta razón el sistema, el Leica DCM8 ofrece una...
Abrir la página 11 del catálogoTodos los catálogos y folletos técnicos Leica Microsystems
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M620 F20
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M844 F40/F20
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M320 para ORL
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TL4000 BFDF
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LED3000 NVI
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LED5000 MCI
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LED5000 SLI
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M125 C, M165 C, M205 C, M205 A
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SFL7000
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SFL100
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DM750 M
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