Microme|x neo 160 Microme|x neo 180
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Solución de inspección por rayos X de alto rendimiento con inspección no destructiva de placas planarCT Microme|x neo 160 Microme|x neo 180 Nanome|x neo 180

Phoenix Microme|x neo y Nanome|x neo Sistemas de inspección por rayos X de alta resolución con microenfoque/nanoenfoque de 160/180 kV con opción de TC 3D Los sistemas Phoenix Microme|x neo y Nanome|x neo combinan tecnología de rayos X 2D y TC 3D en un único sistema. Unas funciones únicas e innovadoras y un posicionamiento extremadamente preciso convierten a ambos sistemas en una solución eficaz y fiable para un amplio espectro de tareas de inspección 2D y 3D offline: I+D, análisis de fallos, control de calidad y procesos. La tecnología Phoenix|x-ray X|act ofrece una µAXI basada en CAD y...

Waygate Technologies brilliant DXR-HD detector fleet El nuevo detector DXR S100 Pro de gran tamaño, en combinación con la excelente resolución de píxel, define la tecnología de imagen líder del sector: Huecos procesados con Flash!TM en una bola µBGA abierta: zoom geométrico 1970x para una ampliación extrema Ofrece una excelente resolución de píxel de 100 µm y velocidades de hasta 30 fotogramas por segundo para una extraordinaria capacidad de detección y una eficiencia elevada La gran área activa de 300 mm x 250 mm aumenta significativamente la visión y redefine la eficiencia de la...

Tomografía computarizada 3D de alta resolución Opcionalmente, para la inspección avanzada y el análisis 3D de muestras más pequeñas se dispone de la tecnología de TC 3D patentada Phoenix|x-ray. La tecnología de rayos X de alta potencia de 180 kV, la rápida adquisición de imágenes con el detector DXR y Diamond|window, en combinación con el rápido software de reconstrucción de Phoenix|x-ray, ofrecen resultados de inspección de alta calidad nanoCT® de TSV en un paquete electrónico. Los huecos en el relleno de cobre son claramente visibles. Máxima resolución de vóxel de hasta 2 micras; la...

X|act – Inspección basada en CAD: µAXI de alta resolución para una cobertura extremadamente alta de los defectos Como solución para µAXI con una cobertura extremadamente alta de los defectos, Phoenix|x-ray ofrece sus sistemas de alta precisión Microme|x neo y Nanome|x neo, incluyendo el paquete de software X|act para una programación CAD offline rápida y sencilla. Su nueva e intuitiva interfaz gráfica de usuario, con una precisión y repetibilidad excelentes, las vistas pequeñas con resoluciones de tan solo unos pocas micras, la rotación de 360° y la vista oblicua de hasta 70° garantizan el...

Phoenix Microme|x y Nanome|x neo Excelentes imágenes en vivo de la inspección gracias a la flota de detectores digitales DXR-HD de alto rango dinámico de Waygate Technologies Tubo de microenfoque o nanoenfoque exclusivo de alta potencia de 180 kV/20 W para muestras electrónicas incluso de absorción elevada. Tiempo de configuración mínimo gracias a una programación CAD automatizada y altamente eficiente Superposición en vivo de los resultados CAD y de la inspección, incluso en vistas oblicuas y rotadas Cobertura de defectos y repetibilidad extremadamente elevadas Máxima capacidad de...

Especificaciones técnicas y configuraciones Nanome|x neo 180 Detector de rayos X Aumento geométrico Aumento total monitor 2K de 27” Capacidad de detección de detalles Tipo de tubo de rayos X Máx. tensión/potencia del tubo en el blanco Filamento Microme|x neo 160 Detector DXR S85 Pro de alto rendimiento, resolución de píxel de 85 µm, 13 cm x 13 cm de área activa Tubo con nanoenfoque abierto de bajo mantenimiento con vida útil ilimitada, tipo de transmisión, ángulo del cono de 170°, colimado Tubo con microenfoque abierto de bajo mantenimiento con vida útil ilimitada, tipo de transmisión,...